德國菲希爾x射線測(cè)試儀
簡要描述：HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的處理和使用了的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)
產(chǎn)品型號(hào)：FISCHER- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間：2025-07-01
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產(chǎn)品詳情
| HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的處理和使用了的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)。 *的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM® V.6軟件） X射線測(cè)厚儀典型的應(yīng)用范圍如下：  單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 zui多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。 分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。 分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。 |
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| | FISCHERSCOPE |
| 測(cè)量方向 | text |
| X-射線管型號(hào) | text |
| 可調(diào)節(jié)的高壓 | |
| 開槽的測(cè)量箱體 | |
| 基本Ni濾波器 | |
| 接收器（Co） | |
| 數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目 | text |
| z-軸 | text |
| 測(cè)量臺(tái)類型 | text |
| 測(cè)試點(diǎn)的放大倍率 | text |
| DCM方法 | |
| WinFTM® 版本 | text |
| 操作系統(tǒng)： | |
